Software parallelization of a probabilistic classifier based on Venn Prediction: Application to the TJ-II Thomson Scattering

F. J. Martínez, J. Vega, S. Dormido-Canto, I. Pastor, E. Fabregas, G. Farias

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Software parallelization of a probabilistic classifier based on Venn Prediction: Application to the TJ-II Thomson Scattering'. En conjunto forman una huella única.

Química

Ingeniería y ciencia de los materiales